TEST MENU
電子部品、電子機器、その他製品が使用中または輸送中に受ける振動への影響や 耐久性を評価致します。
JIS C 60068-2-6
JEITA ED-4701/400A
MIL-STD-810
電子部品、電子機器、その他製品が使用中または落下時等に受ける衝撃への影響や 耐久性を評価致します。
JIS C 60068-2-6
JEITA ED-4701/400A
MIL-STD-810
JIS C 60068-2-27
MIL-STD-202, 810, 883
JEITA ED-4701/400A
電子部品、電子機器、その他製品が使用中または輸送中に受ける振動への影響や耐久性を評価致します。
高温、低温、湿度環境下で正弦波振動、ランダム振動のストレスを加えるで試験です。
低温ー70℃~高温150℃、湿度20%~98%RHの範囲で試験可能です。
主に梱包貨物が輸送中、取扱い中に受ける落下衝撃に対する影響や耐久性を評価致します。
人力による扱いを想定した角、りょう、面に衝撃を加える自由落下試験です。
JIS Z 0200
製品・部品の接合強度を評価致します。 規格に沿った試験は勿論ですが、規格外の試験をご要望であればお気軽にご相談いただければ 対応検討させていただきます。
また、試験に使用する各種冶具(つかみ・固定用など)も過去の試験実績により 多種所有 しておりますが、所有していないものでも加工作製致しますので ご要望ください。
JIS C 3005 ・ JIS C 60068-2-21 ・ JIS C 60068-2-77
ボンドテスターを使用し、電子部品の各種ワイヤーのプル試験、実装部品のシェア試験など実施し
接合強度を評価致します。プル/シェア試験共に、荷重用のロードセルならびにプルツール・シェアツール を複数取り揃えており、試験対象の各種形状に合わせて試験することができます。
ESD試験:半導体や電子部品が静電気によるストレスを受けた際の影響、破壊耐量を評価します。
ラッチアップ試験:寄生サイリスタ構造を持つデバイスにおいて、ラッチアップに対する耐性を評価します。
CDM試験:PKGに電荷を充電し、デバイスよりGNDに放電するモードを疑似的におこないます。
HBM:JEITA ED-4701/302 ・ JEDEC JESD22-A114 ・ AEC-Q100-002 ・ ESDA JS-001
LU :JEITA ED-4701/302 ・ JEDEC JESD78 ・ AEC-Q100-004
CDM:JEITA ED-4701/302 ・ JEDEC JESD22-C101